淺析植物冠層分析儀的操作原理以及注意事項
植物冠層分析儀可測量：葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射(PAR)等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農林業科研工作。
操作原理：
葉面積指數(LAI)與植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)是在生態學與氣候學中是重要的生物物理參數。這些參數在生態學及氣候學領域中有著廣泛的應用。TRAC植物冠層分析儀采用獨特的創新技術，在冠層下方沿著橫斷面測定植物冠層吸收的光合有效輻射分量，然后將之轉換為林隙比例分布，從而計算出葉面積指數等其它參數。
1.任何物質都具有發射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發送或反射，物質的特性就能被確定。在實際應用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區電磁波譜的某些波段。此波段區域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發射率差異。葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區的長波波段可以用于估計植物的生物化學成份。
2.采用可見/近紅外光反射光譜技術和多通道光譜信息掃描技術，可快速測定植被表面參數、植物冠層信息、植物養分信息、土壤養分信息、環境參數、植物病蟲害程度等。
注意事項：
1.要注意葉片與傳感器的距離;
植物冠層分析儀是利用傳感器來進行測量的，因此測量的過程中，要注意葉片與傳感器的距離，因為太近也會導致測量的誤差。因此要明確葉片與傳感器的距離限制，如果距離無法縮小，可以考慮增加重復次數來解決這個問題。
2.要避免陽光直射;
由于直射的陽光會導致測量誤差，因此在使用作物冠層分析儀測量的過程中，應該盡量避免直射的陽光，一般來說理想的測量天氣為日出日落時或多云的天氣，其中遮蓋帽設計，也是為了降低由于光線造成的誤差，比如從傳感器的視野中去除太陽；從視野中去除操作者的影響；天空亮度不均勻；冠層內有明顯的空隙；減小對測量樣地尺寸的需要；減小了森林內必需的空地尺寸等。
3.注意斜坡的影響;
在測量的過程中，有些測量對象是在斜坡上的，因此此時就需要注意了，對于斜坡測量，使用作物冠層分析儀的時候，應該盡量使傳感器保持與斜坡相匹配，而不是實際的水平。
4.注意樣地尺寸的影響;
由于在測量的過程中，要保證傳感器的視野范圍是冠層高度的3倍，因此這就對樣地的尺寸有要求，如果尺寸太小，勢必會影響測定結果，但是如果實在是無法解決樣地尺寸太小的問題，那么可以采用觀察帽的方法或是除第5個環的數據來解決這個問題。
綜上所述，以上就是植物冠層分析儀的操作原理以及注意事項，希望廣大客戶讀者朋友一定要在操作過程中注意以上事項，如自己操作失誤造成儀器損壞，后果自負！
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