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    植物冠層分析儀在作物不同生長階段冠層結構變化的用處
    作者:葉綠素測定儀  出處: 植物冠層分析儀   發布日期:2017-09-12 03:51:47
       植物冠層分析儀隨著現代農業的發展,被廣泛的應用在農業生產與農業科研,下面由山東恒美科技植物冠層分析儀小編跟大家一起來學習一下植物冠層分析儀在農作物不同生長階段冠層結構變化的用處有哪些?
       植物冠層分析儀
       植物冠層分析儀可廣泛應用于農業生產和農業科研,為進行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系,本儀器用于400nm-700nm波段內的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾(μmols-1m-2)。 
     
       在LAI<1的情況下,地表植物覆蓋度分析儀測量玉米葉面積指數的結果大于玉米實際的葉面積指數;而地表植物覆蓋度分析儀的測量結果與實際葉面積指數相差較小。在測量LAI<1的玉米冠層時,將明顯高估玉米的葉面積指數,其可能原因是在玉米生長發育早期,葉片稀疏,周圍高大植物、建筑物在TOP-1300植物冠層分析儀“魚眼”鏡頭的投影會造成儀器測量結果高估真實葉面積指數。
      
        在LAI>2的情況下,兩種植被冠層分析儀的測量結果都與植物冠層分析儀實際測量結果有差異,通過配對比較t檢驗,兩種分析儀都明顯低估了玉米實際葉面積指數。
      
         植物冠層分析儀測量結果較小低估實際葉面積指數0.32,較大低估實際葉面積指數達1.60;地表植物覆蓋度分析儀測量結果較小低估實際葉面積指數0.40,較大低估實際葉面積指數達1.05??梢娫谟衩兹~面積較大的情況下,使用兩種植物冠層分析儀很難準確測量玉米葉面積指數。
      
        造成不同植物冠層分析儀在玉米不同生長階段測量誤差不同的主要原因是玉米冠層結構變化快。因而單一選取某種測量誤差較小的植物冠層分析儀以減少誤差的方法只適用于冠層結構較為穩定的植物,不適用于冠層結構隨時間變化較快的農作物。
     

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