葉面積指數測定儀的詳細介紹以及技術參數
葉面積指數測定儀是用于各種高度植物冠層的研究,利用魚眼鏡頭和CCD圖 像傳感器獲取植物冠層圖像,通過專用分析軟件,獲得植物冠層的相關指標和參數。利 用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數據,只操作一次即可,簡化了傳統測量方法 要一天定點多次測量的繁復工作,而且利用圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠 層結構參數的冠層空隙部分,也可以躲開不符合測量計算的障礙物。
測試原理與方法
葉面積指數測定儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下,采用半理論 半經驗的公式,通過 冠層孔隙率的測定,計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下 天穹半球圖像分析 測量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中較準確和較省力、省時、快捷方便的方法。
技術參數 :
1.鏡頭角度:150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要,180°魚眼鏡頭經
常不適合孔隙率測量原理與方法所假設的前提條件,用于冠層結構分析是不適宜
和不經濟的)。
2.分辨率:768×494pix
3.測量范圍:天頂角由0°~75°(150°魚眼鏡頭)可分割成十個區域,方位角360°亦可分割成十個區域。
4.PAR感應范圍:感應光譜400~700nm。 測量范圍0~2700μmol/m2•s
5.分析軟件:專業植物冠層分析系統軟件。
6.顯示和內存:7英寸筆記本,128內存以上。
7.電 源:電腦電池。
8.探頭尺寸:直徑6cm,高10cm
9.傳輸接口:USB
10.工作溫度:0~55℃
11.重量:1.5kg
葉面積指數測定儀以任意定義圖像分析區域(天頂角可分10區,方位角可分10區)。對不同方向的冠層進行區域性分析時,可以任意屏蔽地物景像和不合理 的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇,可以避開不符合計算該冠層結構參數的冠層孔隙條件,通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上,可以在野外即時觀察圖像,選擇合理的測點,將圖像存貯。

葉面積指數測定儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下,采用半理論 半經驗的公式,通過 冠層孔隙率的測定,計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下 天穹半球圖像分析 測量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中較準確和較省力、省時、快捷方便的方法。
技術參數 :
1.鏡頭角度:150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要,180°魚眼鏡頭經
常不適合孔隙率測量原理與方法所假設的前提條件,用于冠層結構分析是不適宜
和不經濟的)。
2.分辨率:768×494pix
3.測量范圍:天頂角由0°~75°(150°魚眼鏡頭)可分割成十個區域,方位角360°亦可分割成十個區域。
4.PAR感應范圍:感應光譜400~700nm。 測量范圍0~2700μmol/m2•s
5.分析軟件:專業植物冠層分析系統軟件。
6.顯示和內存:7英寸筆記本,128內存以上。
7.電 源:電腦電池。
8.探頭尺寸:直徑6cm,高10cm
9.傳輸接口:USB
10.工作溫度:0~55℃
11.重量:1.5kg
葉面積指數測定儀以任意定義圖像分析區域(天頂角可分10區,方位角可分10區)。對不同方向的冠層進行區域性分析時,可以任意屏蔽地物景像和不合理 的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇,可以避開不符合計算該冠層結構參數的冠層孔隙條件,通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上,可以在野外即時觀察圖像,選擇合理的測點,將圖像存貯。
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